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半導体パラメータ分析器 双CPU 最大電圧40V LCR 0.56ms 10ビンス

部門:
マイクロオームテスト
指定
適用する:
半導体
データ解析:
リアルタイム分析
データ記憶:
内部メモリ
データ転送:
USB/Ethernet
サイズ:
コンパクト
ディスプレイ:
LCDディスプレイ
インターフェース:
USB/Ethernet
測定の範囲:
高電圧
測定の速度:
高速
測定タイプ:
CV
電源:
AC/DC
製品名:
半導体のためのCVの検光子
安全:
CE/ULは証明した
ソフトウェア:
Windows/Mac OS
体重:
ライト級選手
ハイライト:

半導体変数検光子

,

ICR分析機

,

半導体分析機

導入

TH511 半導体CV解析器: 2 つのCPU,最大電圧 ±40V,LCR 0.56ms,10 ビン

  1. 試験および特徴付けにおける応用: DCバイアス電流源は,トランジスタ,ダイオード,集積回路 (IC)特定のバイアス条件下でデバイスの動作を評価し,加益,線形性,漏れ電流,限界電圧などのパラメータの測定を容易にする.さらに測定装置の校正に使用され,正確な結果と追跡が保証されます.

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特徴

10.1インチ容量タッチスクリーン,解像度1280*800,Linuxシステム

デュアルCPUアーキテクチャ,LCR機能のテスト速度は0.56ms

3つの試験方法:スポットテスト,リストスキャン,グラフィックスキャン (オプション)

4つの寄生物パラメータ (Ciss,Coss,Crss,Rg) を測定し,同じ画面に表示する.

CV曲線スキャン,Ciss-Rg曲線スキャン

統合設計:LCR + VGS低電圧源 + VDS高電圧源 + チャンネル切り替え + PC

標準 2 チャネルテスト,同時に2つのデバイスまたはデュアルチップデバイスをテストすることができます,チャネルは6に拡大することができます,チャネルパラメータは別々に保存されます

快速充電,コンデンサータ充電時間を短縮し,高速テストを可能にします

自動遅延設定

高バイアス:VGS:0 - ±40V,VDS:0 - 200V/1500V/3000V

10 箱の分類

申請

半導体部品/電源部品

ダイオード,トリオード,MOSFET,IGBT,タイリスター,集積回路,光電子チップ等における寄生容量試験とC-V特性分析

半導体材料

ワッファー,C-V特性分析

液晶材料

弾性定数分析

容量要素

コンデンサータのC-V特性試験と分析,容量センサー試験と分析

 

 

仕様

モデル TH511 TH512 TH513
チャンネル 2 (4/6 Ch オプション) 2
ディスプレイ ディスプレイ 10. 1インチ容量タッチスクリーン
割合 0.672916667
決議 1280*RGB*800
テストパラメータ Ciss,Coss,Crs,Rg.任意に選択できる4つのパラメータ
試験頻度 範囲 1kHz-2MHz
精度 0.0001
決議 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz10.0000kHz-99.9999kHz
1Hz100,000kHz-999.999kHz
10Hz1.00000MHz-2.00000MHz
テストレベル 電圧範囲 5mVrms-2Vrms
精度 ± (10%*設定値+2mV)
決議 1mVrms5mVrms-1Vrms
10mVrms1Vrms2Vrms
VGS 範囲 0 - ±40V
精度 1%* 設定電圧+8mV
決議 1mV0V - ±10V
10mV10V - ±40V
Vds 範囲 0〜200V 0〜1500V 0~3000V
精度 1%* 設定電圧+100mV
出力インペデンス 100, ±2%@1kHz
計算 絶対値の偏差,指数値の%の偏差
カリブレーション機能 オープン,ショート,ロード
平均値 1~255回
AD変換時間 (ms/時間) スピード:0.56ms (>5kHz), スピード:3.3ms, ミディアム:90ms, スロー:220ms
基本 的 精度 0.001
 
RFQを送りなさい
標準的:
MOQ: